c测试仪 3504-凯发k8官网登录vip

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c测试仪 3504-60
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封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据c 和d (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用bin的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

基本参数

测量参数cs,cp(电容),d(损耗系数tanδ)
测量范围c:0.9400pf~20.0000mf
d:0.00001~1.99000
基本精度(代表值)c: ±0.09% rdg. ±10 dgt., d: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× b× c× d× e, b~e为各系数
测量频率120hz, 1khz
测量信号电平恒压模式: 100mv (仅限3504-60), 500 mv, 1 v
测量范围:
cv 100mv:~ 170μf 量程 (测量频率 1khz), ~ 1.45mf 量程 (测量频率 120hz)
cv 500mv: ~ 170μf 量程 (测量频率 1khz), ~ 1.45mf 量程 (测量频率 120hz)
cv 1v: ~ 70μf 量程 (测量频率 1khz), ~ 700μf 量程 (测量频率 120hz)
输出电阻(cv测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 khz, fast)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能bin分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, low-c筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (ext. i/o), rs-232c接口(标配), gp-ib接口(3504-40除外)
电源ac 100/120/220/240v ±10%(可选择), 50/60hz, 最大110va
体积及重量260w × 100h × 220dmm, 3.8kg
附件电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

测试冶具或电缆


smd测试治具9699

用于底部有电极的smd dc~120mhz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

smd测试治具9677

用于侧面有电极的smd dc~120mhz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

smd测试治具9263

直接连接型, dc~5 mhz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

测试治具9262

dc~8 mhz, 直接连接型

测试治具9261

电缆连接型, dc ~ 5 mhz, 1m长

镊形探头l2001

线长73cm,dc~8mhz,50ω,前端电极间隔:0.3~6mm(im9901:jis尺寸1608~5750)(im9902:jis尺寸0603~5750)

4端子测试探头 9140

dc~100khz, 1m长

打印机


打印机 9442

数码打印

ac适配器9443-02

适用于打印机9442

连接电缆 9444

适用于9442, 线长:1.5 m

记录纸 1196

112mm x 25m, 10卷/盒

pc 通讯器


gp-ib连接线9151-02


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